场发射扫描电子显微镜/能谱仪
服 务 商：
上海材料研究所
品牌/型号：
FEI Electron Optics B.V. Quanta 400 FEG；CENESIS XM2 SEM EDS
样品要求：
服务特色：
来样为船用花键轴，在使用时间约48小时发生断裂，浙江汉力士船用推进系统股份有限公司上海分公司委托我中心对花键轴进行断裂原因分析。断裂花键轴断裂位置为光轴区域，该区域无台阶及加工R角等应力集中，同类型花键轴的一直使用从未发生过如此早期断裂，可以排除其设计问题；花键轴在断裂后一直运转，断面严重磨损，给检测带来一定难度，本案研究的关键是通过分析判断确定花键轴早期断裂的原因。通过宏观观察，化学分析，力学性能检验、扫描电镜断口分析，金相检验等分析手段，找到花键轴材料本身是否存在缺陷，加工使用
