透射电子显微镜(TEM)
服 务 商：
中国地质大学（武汉）
品牌/型号：
荷兰Philips Philips CM12 TEM/STEM
样品要求：
（1）粉末样品粒度最好在微米量级至纳米量级。
（2）如果是预先分散好的样品，本实验室不对制样的质量负责，重复制样需要按次数收取制样费。相应的机时费也不能减免。
（3）如果因为样品粒度太大导致测试无结果，需要收取制样费和1小时的起步机时费。
（4）因为磁性粉末样品极容易被吸附到物镜极靴上，损害电镜的图像分辨率，所以原则上谢绝测试磁性粉末样品。对于少量确实急需测试的磁性粉末样品，需报请仪器负责人批准后方可测试，并按特殊标准收费。
（5）磁性粉末样品不得冒充非磁性粉末样品进行测试，一旦发现将按磁性样品标准的2倍收取测试费。
（6）送样人自己事先制备的“非磁性”透射电镜粉末样品，必要时需要加收分析确认费用（如X射线能谱分析及电子衍射物相分析费用）。
（7）由于离子减薄制样费工费时，且制样成功率受多种因素影响，尤其是一些样品本身的因素，如硬度太大、太脆导致磨样、裁样及凹坑等过程中极易产生大量可见和不可见的裂纹，从而导致离子减薄制样失败，需要重新制备。失败样品的损失，送样人和本实验室各承担50%。
服务特色：
无
