椭偏仪(ELL)
HORIBA France SAS
3个工作日
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  • 山东省
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分析仪器

检测范围

用于测量单层或多层薄膜厚度d,单层或多层薄膜各层光学常数的测量,如折射率n 及消光系数k。

样品要求

单层薄膜:不透明的可以薄一些,如金属类的话20-30nm即可;半透明的厚度最好不低于2mm;透明的最好3mm

仪器参数

测试波长范围200-2000nm

样品测试效果图

测试效果图

仪器特色&服务特色

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