X射线光电子能谱(XPS)
南京大学现代分析中心
日本UlVAC-PHI 公司,PHI 5000 VersaProbe
江苏省
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检测范围

电子能谱仪用于表面的成分分析和表面元素化学态的分析。它所获得的信息主要是从样品表面的数埃至数十埃的准表面层得到的,因此,特别适用于研究表面态,既可以研究分子的价电子体系,又可研究束缚得比较紧的原子内层能级。电子能谱仪已被广泛地应用于物理、化学、生物学、材

样品要求

不可测试样品: 易燃易爆、易挥发、腐蚀性、磁性和放射性等材料;
可测样品送样要求: 固体样品,粉末或块体,其中块体厚度不超过5mm,面积不超过1cm*1cm。特殊尺寸样品请提前和实验室联系;
样品需提供的信息: 注明测试元素、扫描区间、样品是否回收。

仪器参数

【主要技术指标】       
X射线光电子能谱(XPS),单色化Al Kα,清洁Ag样,Ag3d5/2;大面积XPS,FWHM ≤ 1.0 eV时,灵敏度 ≥ 1,000,000 cps;20μm, FWHM ≤ 0.60 eV时,灵敏度 ≥ 15,000 cps;成像XPS,最佳空间分辨率 ≤ 10μm;真空度:≤ 6.7×10-10 mbar。

【仪器功能及附件】       
附原位反应处理池,可在不同温度及压力下对样品进行不同气氛的处理,以获得实际使用气氛对样品表面组成及状态变化的动态影像信息。
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