检测范围
广泛应用于材料、化学、物理、地质、地理、环境、生物、医学、金属、半导体、高分子、陶瓷等学科及领域。
仪器参数
主机系统：Tecnai G2 F30 S-TWIN 透射电镜主机、单倾样品杆、低背景双倾样品杆等部件；
一体化STEM系统：STEM硬件、扫描图像技术、高角环形暗场探测器（HAADF Detector）、明场/暗场探头（BF/DF Detector）；
一体化能谱仪系统：Oxford能谱探头、能谱分析技术；
一体化GIF系统：EFTEM＆EELS。
技术参数:
信息分辨率极限：0.14 nm
点分辨率：0.205 nm 线分辨率：0.102 nm
高分辨STEM分辨率：0.16 nm
样品最大倾角：(α) +/-40o；(β, 双倾样品杆) +/-30o
EDS能量分辨率：＜136 ev
GIF系统能量分辨率：≤0.7 ev(Extr≤3 KV)；≤1.0 ev(Extr=4 KV)
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