检测范围
原子力显微镜广泛地应用于表面分析的各个领域,通过对表面形貌的分析、归纳、总结,以获得更深层次的信息。它可以用于研究金属、半导体和非金属类材料的表面形貌、表面重构、摩擦力，获得相界、分形结构和横向力等信息的空间三维图像。
仪器参数
AFM分辨率：横向分辨率：0.2 nm（XY方向）
扫描范围：XYZ
标准扫描器：30 μm×30 μm×5 μm
深域扫描器：55 μm×55 μm×13 μm
狭域扫描器：2.5 μm×2.5 μm×0.3 μm
扫描器控制精度：XY轴控制：16位精度；Z轴控制：26位精度
Z轴趋近方式：自动趋近
Z轴最大可趋近范围：10 mm
最大样品尺寸：φ24 mm×8 mm
温度控制范围：室温至300 ℃
仪器特色&服务特色
测试原理:将一个对微弱力极敏感的微悬臂一端固定，另一端有一微小的针尖，针尖与样品表面轻轻接触，由于针尖尖端原子与样品表面原子间存在极微弱的排斥力，通过在扫描时控制这种力的恒定，带有针尖的微悬臂将对应于针尖与样品表面原子间作用力的等位面而在垂直于样品的表面方向起伏运动。利用光学检测法或隧道电流检测法，可测得微悬臂对应于扫描各点的位置变化，从而可以获得样品表面形貌的信息。
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