透射电子显微镜 TEM(TEM)
华中科技大学分析测试中心
荷兰FEI公司,Tecnai G2 20
湖北省
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检测范围

广泛使用于材料、物理、化学、地质、地理、环境、生物、医学、冶金、陶瓷、半导体等学科及行业。

仪器参数

该仪器属于当今较先进的200kV分析电镜,可采用LaB6灯丝,具有较高的亮度和分辨率,能快速有效地采集和处理信号, 并将高分辨图像、明场/暗场图像、电子衍射和详细的微观分析有机的结合起来。配备有既可得到高分辨图像又可以保持高倾角( 最大40°)的S-TWIN物镜和机械稳定性优异、可精确控制样品的CompuStage样品台,还配有EDAX能谱系统,可以进行原位的元素成分分析。紧凑的结构、完美的电子光学系统,全自动的计算机控制,确保了仪器的长期稳定性。  

技术参数:
放大倍数 :25x - 1100000x 样品最大倾角:+/-45°(单倾杆最大倾角+/-40°;
双倾杆最大倾角+/- 45°) 分辨率: 0.248nm(点),0.144 nm(线)
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