检测范围
超高分辨极靴，点分辨率0.194 nm，线分辨率0.14nm；
配有STEM明场像和暗场像探头，分辨率达1 nm；
配有牛津能谱仪，X-Max80T探测器，80 mm2有效活区面积，分析元素范围4Be—92U
仪器参数
JEM-2100Plus是日本电子最新生产的一款六硼化镧高分辨透射电子显微镜，加速电压80-200 KV。该设备采用3级聚光镜设计在任何束斑尺寸下都可以提供高亮度电子束，大大提高了分析和衍射成像能力，可以轻松实现透射高分辨像、明/暗场像、STEM像和衍射像等功能。配合能谱仪可实现面扫、线扫、点扫等成分分析。因此，该设备与JEM-F200 (HR)在功能上形成中高搭配，可完成材料、生命、纳米等诸多领域的微结构分析需求。
核心参数:
1、分辨率：点分辨率≤ 0.19 nm，线分辨率：≤ 0.14 nm
2、束斑尺寸：TEM模式 20-200 nm；EDS模式 < 0.5-25 nm
3、加速电压： 80, 100, 120, 160, 200 KV合轴数据内置，步长50 V
4、TEM放大倍数：LOW MAG模式 ×50-6 k； MAG模式 ×2 k-1500 k
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