X射线粉末衍射仪(XRD)
上海华谊(集团)公司
Bruker-AXS,D8 Advanced
上海市
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检测范围

物相分析 精密测定点阵参数 取向分析 晶粒(嵌镶块)大小和微观应力的测定 宏观应力的测定 可以分析黏土矿物、合金、陶瓷、食品、药物、生物材料、建筑材料、 高分子材料、半导体材料、超导材料、纳米材料、超晶格材料和磁性材料的物相鉴定,材料可以是单晶体、多晶体、纤维

仪器参数

角度范围:0~140°测量精度:0.0001°重现性: 0.0001°探测器重现性:线性范围>7,000,000 cps;原位池:RT~900°
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