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高分辨透射电子显微镜(Transmission electron microscope)
上海临港海洋科技创业中心有限公司
日本电子，JEM 2100F
上海市
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检测范围

基础研究；固体物质微结构研究；高分辨显微术；晶体结构及晶体缺陷分析；物质微区元素成分测定；先进材料制备方法、性能与结构关系的研究。

仪器参数

1.点分辨率：0.19nm ；2.线分辨率：0.14nm ；3.加速电压：80, 100, 120, 160, 200kV ；4.倾斜角：±25°；5.TEM分辨率：0.20nm。
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