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XFR偏振型X射线荧光光谱仪(Benchtop XRF Spectrometer)
上海空间电源研究所
SPECTRO Analytical Instruments GmbH，APECTRO XEPOS III
上海市
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检测范围

非破坏性材料元素分析.化工,冶金材料常量到微量成分分析.

仪器参数

全元素分析Na(11)-U(92),测试范围ppm-100%;最低检出限:0.7ppm;能量分辨率5000:1;对卤素有很好的测试效果.
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