电流连续测量系统(Tapestar XL High-resolution Ic Measuring System)
上海超导科技股份有限公司
THEVA,Tapestar XL System
上海市
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检测范围

TAPESTAR是超导带材的快速质量检测工具。其求值方法适用于所有类型的超导带材(1G或2G),并且与其磁特性无关,即使是厚封装的带材、绝缘带材,以及被嵌入而无法直接测量的带材。

仪器参数

在200米/小时的带材速度下,空间分辨率在毫米级以上。带材可能配有稳定层或绝缘层。带材的宽度在3到12 mm之间。可测量的带材最大厚度200 μm。是测量的带材是在液氮中大约77k条件下工作。
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