聚焦离子束系统(Focused Ion Beam System)
上海聚跃电子科技有限公司
FEI Company,FIB200
上海市
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分析仪器

检测范围

FIB200目前主要用以0.18um 以上集成电路修补包括Pt互连,新型辅助气体搭配离子束快速切割,低阻值探点的快速生成,电阻模拟,X-section 和TEM lamella 的制备等.

仪器参数

分辨率5nm,30kV加速电压,离子束流1-11000pA
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