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高真空扫描电镜(Scanning Electron Microscope)
上海市毛麻纺织科学技术研究所
JEOL公司，JSM-6390
上海市
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检测范围

凭借其全数字化控制系统，高分辨率、高精度的变焦聚光镜系统、全对中样品台及高灵敏度半导体背散射探头，广泛应用于各种材料的形貌组织观察、金属材料断口分析和失效分析。

仪器参数

分辨率：3.0nm（高真空模式）；4.0nm（低真空模式）放大倍数：17--300.000倍样品台X:80mm  T:-10 to +90degree R:360degree加速电压：5kV to 30kV 束流1pA--1uA物镜光阑：3档，X--Y可细调
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