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多功能薄膜测试系统(Multi-functional thin film measurement system)
尚德太阳能电力有限公司
Scientific Computing Int.，Filmtek 3000+IR
上海市
我们目前尚未与尚德太阳能电力有限公司提供的该仪器进行进一步的对接。如果您需要使用该仪器，建议您联系相关单位，以确定是否可以对外开放。您也可以通过 点击此处 提交需求，委托我们帮您联系相关单位。如果您选择通过我们联系相关单位进行送样测试，我们将为您提供以下保障：

检测范围

可测透过率、反射率、折射率、消光系数,并可计算薄膜厚度、禁带宽度等。对于新材料样品，需要在软件中设定新的recipe方可进行相关计算。

仪器参数

膜厚测量范围：1nm-150μm。膜厚测量精度：±1.5?，测量NIST标准的1000? to 1μm氧化物。测试时间：每点小于2秒（标准氧化物）。
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