透射电子显微镜系统(Transmission electron microscope system)
上海市检测中心
FEI香港有限公司,TECNA1 G?F20S-TWIN
上海市
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所有仪器

分析仪器

检测范围

主要应用在形貌观察,物相分析,晶体结构确定,缺陷分析,成分分析等

仪器参数

加速电压:220V,点分辨:0.2nm,线分辨0.1nm

仪器特色&服务特色

为中科院上海应用物理研究所的国家重大科技项目提供TEM检测分析服务,提供了必要的技术支撑服务
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