场发射扫描电子显微镜(Field Emission Electron Microscope)
上海芯索芯片分析技术有限公司
-捷克共和国,MIRA LMH
上海市
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检测范围

用于样品的图象采集、自动拼接、处理等。

仪器参数

1.分辨率:高真空(SE)
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