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场发射扫描电子显微镜(FESEM)
上海纳米技术及应用国家工程研究中心有限公司
日立，S-4800
上海市
我们目前尚未与上海纳米技术及应用国家工程研究中心有限公司提供的该仪器进行进一步的对接。如果您需要使用该仪器，建议您联系相关单位，以确定是否可以对外开放。您也可以通过 点击此处 提交需求，委托我们帮您联系相关单位。如果您选择通过我们联系相关单位进行送样测试，我们将为您提供以下保障：

检测范围

主要功能1.材料表面形貌观察：显微结构，尺寸及相互作用、相组成及相分布；2.材料成分分析：元素定性分析、定量分析、线分析、面分析。应用范围材料学、化学、生物科学等领域的物质表面形貌、尺寸及成分分析。

仪器参数

二次电子像分辨率：1.0nm(15KV,WD=4mm)二次电子像分辨率：1.4nm(1KV,WD=1.5mm,减速模式）二次电子像分辨率：2.0nm（1KV，WD=1.5mm,普通模式）
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