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场发射透射电子显微镜(HRTEM)
上海纳米技术及应用国家工程研究中心有限公司
日本电子(JEOL)，JEM-2100F
上海市
我们目前尚未与上海纳米技术及应用国家工程研究中心有限公司提供的该仪器进行进一步的对接。如果您需要使用该仪器，建议您联系相关单位，以确定是否可以对外开放。您也可以通过 点击此处 提交需求，委托我们帮您联系相关单位。如果您选择通过我们联系相关单位进行送样测试，我们将为您提供以下保障：

检测范围

1.微结构研究：材料的形貌、结构、缺陷和界面的微观分析，包括衍衬成像，电子衍射，高分辨分析；2.材料微观结构成分研究：成分的定性和半定量分析，元素的点，线和面分析，材料的形貌、结构、缺陷和界面的微观分析。应用范围金属、矿物、半导体、陶瓷、生物、高分子、复合材

仪器参数

1.点分辨率：023nm2.线分辨率：0.102nm3.扫描透射分辨率：0.20nm4.加速电压：80kv-200kv
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