环境扫描电子显微镜/X射线能量分散谱仪(scanning electron microscope)
中国上海测试中心(上海市计量测试技术研究院)
菲利浦,XL30/EDX-GENESIS
上海市
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检测范围

可直接进行非导电样品观察、分析,可用于生物材料分析,纳米材料检测等。

仪器参数

二次电子分辨率3.5nm,背散射电子分辨率5.0nm,GSE分辨率3.5nm(
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