检测范围
of infixture and on-wafer applications requiring flexibility, broad frequency coverage and ease of use. Based on Maurys proven non-contacting probe technology, these high-performance tuners evolve beyond outdated contacting probe technology to deliver hig
仪器参数
Optimized for GSM/EDGE, WCDMA, WiFi, WiMax, X-Band, Ku-Band, and CW/Pulsed Microwave Applications.High Matching Range for GaN, InP, InGaP, GaAs, LDMOS, Si and CMOS Characterization.Simultaneous High-Matching and Low Vibration for On-Wafer Applications.
仪器特色&服务特色
2016年6月，杭州浙港智能科技有限公司委托上海集成电路技术产业中心检测实验室（以下简称ICC）对该公司项目所使用的一种超高频射频标签芯片进行灵敏度自动调谐测试。在读写器发射信号达到标签芯片的过程中，由于芯片阻抗未匹配造成的插损，导致无法进行灵敏度测试。在以往的测试工作中，一般采用人为手工进行阻抗匹配，这样的方式耗时长、匹配偶然性大，操作繁琐，这就对进行匹配的技术人员的经验和能力提出了极高的要求。为此，ICC基于Maury公司的Tuner（负载牵引测试系统）和keysight公司的PNA-X N5
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