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原子力显微镜(Atomic Force Microscope)
上海大学
Shimadzu Corp.，SPM-9600
上海市
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检测范围

广泛应用于材料表面分析，显微操作，力学特性分析，分子间力测量，细胞生物学和生物医学中

仪器参数

模式：接触模式、动态模式、 相位模式、水平力模式、力调制模式、磁力模式、      电流成像模式、表面电位模式 分辨率：水平 0.2 nm；        垂直 0.01 nm
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