扫描电子显微镜(Scanning Electron Microscope)
上海大学
日立公司,S-570
上海市
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检测范围

可用于形貌观察、微区成分分析、动态拉伸原位观察分析

仪器参数

加速电压:30KV,放大倍数:20-200000倍,分析元素范围:Be4-U92
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