场发射扫描电子显微镜(field emission scanning electron microscope)
上海大学
CARL ZEISS MICROSCOPY GMBH,ZEISS SUPRA 40
上海市
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检测范围

观察材料表面形貌,析出相分布及成分,断口形貌等。

仪器参数

15kv电压下二次电子像分辨率≤1.3nm,1kv电压下二次电子像分辨率≤2.1nm,工作距离1-50mm,能谱仪分析工作距离近到9mm以下,
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