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台式扫描电子显微镜(Scanning Electron Micoroscope)
上海大学
FEI公司，PHENOMTM G2
上海市
我们目前尚未与上海大学提供的该仪器进行进一步的对接。如果您需要使用该仪器，建议您联系相关单位，以确定是否可以对外开放。您也可以通过 点击此处 提交需求，委托我们帮您联系相关单位。如果您选择通过我们联系相关单位进行送样测试，我们将为您提供以下保障：

检测范围

主要用于观察金属样品的表面形貌；对金属的元素分布进行能谱扫描定量测量；对断口形貌进行三维形貌重构。特别是用于快速凝固形成的粉末状或条带状金属样品，必须通过扫描电镜进行观察，以确定其表面形貌。

仪器参数

1.电镜带有光学显微镜，光学放大倍率：20 - 120倍；2.电子放大倍率：80 - 45000倍 3.仪器分辨率：
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