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透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope)
上海大学
jeol，200 CX
上海市
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检测范围

金属、纳米、高分子、生物、半导体等材料微观形态分析；选区电子衍射。

仪器参数

加速电压： 200 kV；最大放大倍率： X330,000；点分辨率：0.3 nm；线分辨率：0.14 nm；样品台最大倾角。
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