我的订单 会员中心 常见问题 意见反馈 服务商入口

提交需求
首页 > 所有仪器> 显微镜及图象分析 > 双束型聚焦离子束显微分析系统
联系平台客服
分享
双束型聚焦离子束显微分析系统(Helios Nanolab 600i)
上海大学
FEI HONGKONG CO.,LTD，Helios 600i
上海市
我们目前尚未与上海大学提供的该仪器进行进一步的对接。如果您需要使用该仪器，建议您联系相关单位，以确定是否可以对外开放。您也可以通过 点击此处 提交需求，委托我们帮您联系相关单位。如果您选择通过我们联系相关单位进行送样测试，我们将为您提供以下保障：

检测范围

纳米级加工及观测研究。

仪器参数

1.电子束系统分辨率：0.9nm（15kv）/1.4nm（1kv）2.离子束系统分辨率：在束交叉点：4.5nm@30kV（统计测量法）在束交叉点：2.5nm@30kV（单边测量法）3.电子束加速电压：350V-30kV4.离子束加速电压：0.5-30kV5.电子束流：≤22nA6.离子束流：1pA ？C 65nA
更多仪器 查看更多>>
如果找不到合适的仪器，您可以提交您的需求，由我们帮您匹配最优的服务商 提交需求