我的订单 会员中心 常见问题 意见反馈 服务商入口

提交需求
首页 > 所有仪器> 波谱 > 少子寿命测试仪
联系平台客服
分享
少子寿命测试仪(minority carrier lifetime tester)
上海大学
SEMILAB SEMT，WT2000PV
上海市
我们目前尚未与上海大学提供的该仪器进行进一步的对接。如果您需要使用该仪器，建议您联系相关单位，以确定是否可以对外开放。您也可以通过 点击此处 提交需求，委托我们帮您联系相关单位。如果您选择通过我们联系相关单位进行送样测试，我们将为您提供以下保障：

检测范围

单晶和多晶硅块/锭，任意形状、半径的硅片微波光电导衰减法测量硅片少数载流子寿命，Fe沾污测量；涡旋电阻法测量pn结电阻率、方块电阻；测量电池片LBIC电流，扩散长度，反射率，计算内外量子效率。

仪器参数

1.微波激发波长905nm,最小扫描步长1mm2.LBIC四个激发波长：408nm,850nm,950nm,980nm3.方块电阻测试4.体电阻测试
更多仪器 查看更多>>
如果找不到合适的仪器，您可以提交您的需求，由我们帮您匹配最优的服务商 提交需求