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x-光织构极图分析仪(x-ray pole figure texture analyzer)
上海大学
荷兰帕纳科公司，X pertPro
上海市
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检测范围

薄膜及粉末样品的XRD分析

仪器参数

χ射线发生器：最大功率：3kw （45KV X50mA ）;测角仪： 角度重现性：±0.0001°； 2θ范围：0～167°；精度：0.0025° ；分辨率：0.037°；最小步长：0.0001°探测器：99%线性范围1×106cps，最大背景≤0.2cps ；
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