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原子力显微镜(无)
上海大学
PARK公司，AP-990
上海市
我们目前尚未与上海大学提供的该仪器进行进一步的对接。如果您需要使用该仪器，建议您联系相关单位，以确定是否可以对外开放。您也可以通过 点击此处 提交需求，委托我们帮您联系相关单位。如果您选择通过我们联系相关单位进行送样测试，我们将为您提供以下保障：

检测范围

观察抛光固本表面和薄膜表面的表面形貌、价键状态；观察集成电路芯片的光刻质量和掺杂后的电场分布；观察信息存贮材料表面磁场分布磁畴等；可用于微电子集成电路器件的失效分析。

仪器参数

XY平面分辨率:1埃；Z垂直分辨率:0.1埃；扫描范围:20埃--100UM；试样范围:5--50MM?AFM,NC-AFM,STM,MFM,EFM。
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