透射式电子显微镜(HRTEM)
上海大学
日本电子公司JEOL,JEM-2010F
上海市
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检测范围

主要特点为热场发射电子枪、分析型高分辨极靴、高分辨分析型电镜等。主要用于显微结构分析、晶粒形貌、晶体缺陷、纳米颗粒大小、界面结构、高分辨晶格像、微区成分分析等。

仪器参数

加速电压:200KV;点分辨率:0.24NM;线分辨率:0.1NM;透射扫描线分辨率:0.20NM;电子束斑大小:0.5-5nm;TEM模式:2-5NM;汇聚束模式:0.5-2.4NM;放大倍率(低倍模式:50-6000,标准模式:2000-1500000:选区模式:8000-800000);选区衍射相机长度:8-150CM;高分散衍射相机长度:4-80M;样品台倾斜角度(X:正负35度?Y:正负30度);EDS分辨率:MNKA小于136eV;分析元素范围:B5-U92。
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