瞬态热阻测试仪(transient thermal resistance test)
上海大学
SIMPOP INFORMATION TECHNOLOGY CL.,LTD,T3 ster
上海市
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检测范围

半导体器件、LED光电器件等热学分析、测试,具体包括:测试该器件的热阻、结温、同一封装器件不同封装材料的热阻(积分、微分曲线结构函数等)。

仪器参数

1 加热电压:测量范围:5~50V,不确定度:±1%;2 加热电流:测量范围:0.1~20A,不确定度:±1%;3 加热电压测量精度:读数 ±(0.2%+0.1)V4 加热电流测量精度:读数 ±1%;5 加热功率脉宽:1ms~15min;6 温度测量精度:±0.01°C;7 节温测量最小延时:1 μs;8 热阻:测量范围:0.02~1000℃/W;不确定度小于±1%
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