超大规模集成电路测试系统(J750 1024 CHANNEL TEST SYSTEM)
上海华岭集成电路技术股份有限公司
泰瑞达,J750EX
上海市
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检测范围

用于测试数字逻辑芯片、混合信号芯片、片上系统SoC芯片等产品,覆盖MCU、CPU、DSP、HDTV、ADC/DAC、flash memory等产品。

仪器参数

数字板:测试通道1024,测试频率200MHz;PPMU:-2~7V,0-2mA;BPMU:-24~24V,0-200mA;DPS:0-10V,0-1A;
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