检测范围
用于光学非球面镜片面型的非接触快速高精度三维测量,及平面球面的面形、曲率半径的精确测量,进行光学和超精密零件表面的检测和生产过程控制。广泛用于半导体、光学制造、通讯、光学制造、通讯、医疗、航天、汽车制造和消费电子等生产和科研领域。
仪器参数
1.632.8nm激光移相式干涉仪,配1米干涉长度测量系统。2.简单重复精度3nm,表面测量复精度10nm。3.纵向分辨率0.08nm,被测件直径1mm~130mm。轴对称的反射凹面或凸面有测量定点,重量≤5kg,非球面偏高度≤10um,Ro偏离程度≤800um。4.测量口径102mm,变倍比6:1。5.可测非球面镜坡度达800um。6.面型不确定度:≤30°,f/1.0,60nm;≤45°,f/0.71,100nm;≤60°,f/0.58,200nm