非索型激光干涉仪(Zygo GPI XP/D 4)
上海现代先进超精密制造中心有限公司
ZYGO,GPI XP/D 4
上海市
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检测范围

运用移相干涉原理,提供高精度的平面面形、球面面形,曲率半径。透过波前、楔角传输波前的测量和分析。广泛用于半导体、光学制造、通讯、光学制造、通讯、医疗、航天、汽车制造和消费电子等生产和科研领域。

仪器参数

1.使用氦氖激光,工作波长为632.8nm,平面最大可测量口径150mm。2.空间取样1K*1K像素。数据采样时间:低分辨率(7幅数据图像):93ms;高分辨率(13幅数据图像):173ms3.三平面测试重复精度2.0nm,粗糙度重复精度0.1nm。4.分辨率优于λ/8000,条纹分辨率为180条纹5.平板测量λ/300(2a);RMS重复性λ/10000(2a)
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