冷场发射扫描电子显微镜(Field Emission Scanning Electron Microscope)
上海华测品标检测技术有限公司
Hitachi High-Technologies Corporation,S-4800
上海市
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检测范围

微纳分析及表面材料分析

仪器参数

二次电子分辨率: 1.4nm (1 kV,减速模式) 加速电压: 0.5~30kV(0.1KV/步,可变) 放大倍率: x 20~ x 800,000  电子枪: 冷场发射电子源  样品台:I型50mm x 50mm标准样品台
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