X射线衍射仪(XRD)
通标标准技术服务(上海)有限公司
株式会社理学,Ultima IV
上海市
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仪器参数

测角仪:θ-θ广角测角仪(半径185mm);测量角度范围:-3°-160°、扫描速度:0,02-100°min-1、步长0.002-12°、狭缝系统:三狭缝系统DS、SS、RS
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