检测范围
用于测试高精密度IC半导元器件在人体模型(HBM)和机器模型(MM)耐静电(ESD)以及抗栓锁(Latch-up)方面之可靠度以增加其产品之设计/制造品质。768 Pins MK.2SE ESD/Latch-up Test System可测试IC管脚最多可达768 pins。并符合Mil-883、JEDEC、ESDA、AEC等美国和全球IC半导体元器
仪器参数
Support max 768 channel.Support max 5 optional power.Vector for latch-up precondition.Pre and post IV curve or spot measure.