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场发射透射式电子显微镜(Transmission Electron Microscope)
上海海事大学
日本电子，JEM-2100F
上海市
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检测范围

基础研究；固体物质微结构研究；高分辨显微术；晶体结构及晶体缺陷分析；物质微区元素成分测定；先进材料制备方法、性能与结构关系的研究

仪器参数

点分辨率：0.19nm ；线分辨率：0.14nm ；加速电压：80, 100, 120, 160, 200kV ；倾斜角：±25°；TEM分辨率：0.20nm。

仪器特色&服务特色

服务于国家重点基础研究发展计划（973）：海洋工程装备材料腐蚀与防护关键技术基础研究；
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