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冷场发射扫描式电子显微镜(scanning electron microscope)
上海海事大学
日本电子，JSM-7500F
上海市
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检测范围

用于膜层及体相材料表面微观形貌及组成、尺寸的观察、测量，适用于纳米技术、材料和生物科学领域研究。

仪器参数

分辨率：1.0nm at 15kV;1.4nm at 1kV加速电压：0.1KV-30kV；放大倍数：25-100万倍；样品室尺寸：最大200mm直径样品；束流强度：10-13到2X10-9

仪器特色&服务特色

服务于国家重点基础研究发展计划（973）：海洋工程装备材料腐蚀与防护关键技术基础研究；
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