检测范围
X射线衍射相分析（phase analysis of xray diffraction）利用X射线在晶体物质中的衍射效应进行物质结构分析的技术。每一种结晶物质，都有其特定的晶体结构，包括点阵类型、晶面间距等参数，用具有足够能量的x射线照射试样，试样中的物质受激发，会产生二次荧光X射线（标识X射
仪器参数
1.χ射线发生器：最大功率：3KW最大管压：60KV最大管流：60mA；2.陶瓷χ光管：最大功率：2.2KW（Cu靶）最大管压：60KV最大管流：55mA；3.测角仪：扫描方式：θ/θ或2θ/θ模式角度重现性：±0.0001°(空载)；4.探测器：正比探测器：99%线性范围1×106cps，最大背景≤0.2cps ；5.半导体阵列探测器：最大计数率4×106cps，99%线性范围1×106cps，最大背景≤0.1cps
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