砷化镓铟微光显微镜(InGaAs Emission Microscope)
宜特(上海)检测技术有限公司(原 宜硕科技(上海)有限公司)
PHWH,PhWH
上海市
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检测范围

Junction Leakage; Contact spiking; Hot Electrons; Latch-Up; Gate oxide defects/leakage; Poly-silicon Filaments; Substrate damageJunction Avalanche等

仪器参数

Junction Leakage; Contact spiking; Hot Electrons; Latch-Up; Gate oxide defects/leakage; Poly-silicon Filaments; Substrate damageJunction Avalanche等
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