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扫描式电子显微镜(Scanning Electron Microscope)
宜特（上海）检测技术有限公司（原 宜硕科技（上海）有限公司）
JEOL，JSM-6700F
上海市
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检测范围

1) EDX/Material analysis2) Cross Section

仪器参数

A,？？？？:0.5~30KV  B,分辨率:1.0nm(加速？？？？15KV)  2.0nm(加速？？？？1KV) C,放大倍率:25~19000(LEI模？B)  100~65000(SEI模？B)  D,可？^？y？？？？:x:0~70mm; y:0~50mm z::1.5~25mm
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