检测范围
用来做耐温老化试验的。在耐温老化试验中，首先要根据老化测试系统机台内部的接口，另外设计制作老化测试板，将要测试的集成电路芯片插在老化测试板上，再将老化测试板插入老化测试系统内部的接口中，老化测试系统内部接口可提供电压和信号，通过老化测试板供给芯片，同时让
仪器参数
Support Chip Types: Logic Product & Memory Product; Max.Number of Slots: 36 ; Number of Zone: 6 zones;Pattern Vector Depth: 128K;Pattern Channels:96 channels;Clock Rate:5MHz,50ns resolution;Waveform Format:RZ,NRZ,RO,SBC；Driver Capacity:I Sink 200mA,l Sour
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