检测范围
荧光测量：以不同的方式检测材料的缺陷和性能：荧光模式下LSM 700为您的材料在结构和性能的分析上提供了更加 完善的信息。这一新方式为您提供了更为可靠的分析手段。
复合材料分析：检测一个半透明的样品，其物象及微小粒子量化深度可达几百微米。
任意坡度角： 荧光染色方
仪器参数
使用激光作为光源，采用共轭成像的原理，X、Y方向逐点扫描样品表面，合成图像切片，在移动Z周，采集多层切片，形成图像栈，将所有图像栈的信息进行合成，形成可以测量垂直高度和表面粗糙度及轮廓的三维表面形貌图像
仪器特色&服务特色
支撑发表SI论文
分享
