扫描电子显微镜(Scanning Electronic Microscopy)
中国船舶重工集团公司第七二五研究所厦门材料研究院
蔡司,ULTRA55
福建省
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检测范围

1.微米和纳米级材料样品表面形貌像和成份像的观察;2.广泛应用于冶金、地质、生物、医学、化学、半导体、陶瓷、纳米材料的科研领域。

仪器参数

1. 分辨率:0.8nm@15kV、1.6nm@1KV、4.0nm@0.1kV;2. 放大倍数:12倍~100万倍。
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