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半导体参数分析系统(Model 4200 Semiconductor Characterization System)
牡丹江师范学院
无，4200-SCS　
黑龙江省
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检测范围

半导体器件：片上参数测试、晶圆级可靠性、封装器件的特性分析、使用Model4200-SCS控制外部LCR表进行C-V、I-V特性分析、高K栅电荷俘获、易受自加热效应影响的器件和材料的等温测试、电荷泵方法分析MOSFET器件的界面态密度、电阻式或电容式MEMS驱动特性分析；光电器件：半导体

仪器参数

直观的、点击式Windows操作环境；独特的远端前置放大器，将SMU的分辨率扩展至 0.1fA ；用于高级半导体测试的新型脉冲与脉冲式I-V功能； 集成了示波与脉冲测量功能的新型示波卡
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