表面三维形貌仪(Is improving)
清华大学
ADE,MICROXAM-3D
北京市
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所有仪器

测量/计量仪器

分析仪器

检测范围

非接触式样品表面形貌测量,对样品本身没有损伤,用于材料三维表面轮廓测量和粗糙度测量,台阶高度测量,磨痕深度测量,宽度和体积定量测量,空间分析和表面纹理表征,平面度和曲率测量,二维薄膜应力测量,表面质量和缺陷检测等。

仪器参数

放大倍数为25倍、100倍、500倍垂直扫描范围:30 μm 、100μm、5mm、10mm?? 垂直扫描分辨率:0.01nm分辨率:752×480像素(可选1k×1k )侧向分辨率:0.11-8.8 μmRMS重复精度:1nm视场范围:8mm×10mm-0.084mm×0.063mm校正精度:<<0.1%反射要求:1%-100%

仪器特色&服务特色

清华大学天津高端装备研究院,米格实验室,国防科技大学,河北工业大学,中国石油工程技术学院,装甲兵工程学院,中国民航大学等
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