钨丝灯扫描电子显微镜(无)
同济大学
日本日立,SU1510|| ||*
上海市
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检测范围

可用于各种动、静荷载作用下土体的微结构形貌分析以及类似土体材料的微结构测试分析。

仪器参数

能实现5轴控制、不同试样尺寸(最大样品直径:不小于150mm;最大样品高度:不小于60mm(WD=15mm))、不同放大倍数(最大300,000 倍)下的样品扫描。
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