X射线光电子能谱仪(X ray photo electron spectroscopy)
上海交通大学
日本岛津-Kratos 公司,AXIS ULTRA DLD
上海市
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所有仪器

分析仪器

检测范围

纳米科技,材料、物理、化学等学科领域

仪器参数

分析室真空度(2.0#215;10-10 )mbar,X射线源单色化Al靶,双阳极Al-Mg靶.半球分析器0~5000eV扫描范围.能量分辨率≤0.45eV,PET O-C Cls:0.82eV.最大单色化灵敏度1.0#215;106 等

仪器特色&服务特色

东丽先端材料研究开发(中国)有限公司新型碳材料研究室根据本公司复合材料相关项目的需要,拟对乙炔黑纳米碳材料表面元素进行测试。本公司与上海交通大学一直以来都有很好的联系,在上海交通大学分析测试中心XPS还未运行之前关于其他测试就有很好的合作。上海交通大学分析测试中心XPS运行之后,我们就与该机组的老师胡倩倩老师建立了联系。经过与胡倩倩老师的密切合作,采用该中心购买的日本岛津-Kratos 公司的型号为AXIS UltraDLD的X射线光电子能谱仪,对改性后的纳米碳材料进行了测试,剖析其表面元素组成及其价态,
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